DIN EN 62374:2008-02
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta (IEC 62374:2007); Versión alemana EN 62374:2007

Estándar No.

DIN EN 62374:2008-02

Fecha de publicación

2008

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN EN 62374:2008-02

DIN EN 62374:2008-02 Historia

• 2008 DIN EN 62374:2008-02 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta (IEC 62374:2007); Versión alemana EN 62374:2007
• 2008 DIN EN 62374:2008 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta (IEC 62374:2007); Versión alemana EN 62374:2007