Este documento proporciona directrices detalladas para el análisis por espectrometría de rayos X (ED-XRF) en productos refractarios. Describe los procedimientos y métodos necesarios para realizar una evaluación precisa de la composición química mediante esta técnica avanzada. Incluye información sobre la preparación de muestras, parámetros operativos del instrumento y el análisis de datos. El estándar entró en vigor el 8 de agosto de 2024.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
KS L 3316-2024 Historia
2024KS L 3316-2024 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios
2019KS L 3316-2019 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
2014KS L 3316-2014 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
2009KS L 3316-2009 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos y morteros refractarios.
1998KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
1988KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.