BS 6001-1:1972
Procedimientos de muestreo para inspección por atributos-Especificación para planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para inspección lote por lote

Estándar No.

BS 6001-1:1972

Fecha de publicación

1986

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

ser reemplazado

Remplazado por

BS 6001-1:1991

Ultima versión

BS 6001-1:1999+A1:2011

Alcance

Establece planes de muestreo indexados por AQL para inspección por atributos principalmente para uso con series continuas de lotes o lotes. Se proporciona información sobre la determinación de la aceptabilidad utilizando este esquema. Se incluyen curvas de características operativas que ilustran los riesgos involucrados. Idéntico en contenido técnico a la Especificación de Defensa DEF-131-A. (En BS 6000 se proporciona orientación completa).

BS 6001-1:1972 Historia

• 1999 BS 6001-1:1999+A1:2011 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Esquemas de muestreo indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote
• 1991 BS 6001-1:1991 Sampling procedures for inspection by attributes-Specification for sampling plans indexed by acceptable quality level (AQL) for lot-by-lot inspection
• 1986 BS 6001-1:1972 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos-Especificación para planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para inspección lote por lote

estándares y especificaciones