UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Estándar No.
UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
ES-UNE
Estado
Remplazado por
UNE-EN 300417-5-1 V1.2.1:2006
Ultima versión
UNE-EN 300417-5-1 V1.2.1:2006

UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006 Historia

  • 2006 UNE-EN 300417-5-1 V1.2.1:2006 Transmisión y Multiplexación (TM); Requisitos genéricos de funcionalidad de transporte de equipos; Parte 5-1: Funciones de capa de ruta de la Jerarquía Digital Plesiócrona (PDH) (Ratificada por AENOR en diciembre de 2006.)
  • 2006 UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
  • 2006 UNE-EN 300417-5-1 V1.1.2:2006 Transmisión y Multiplexación (TM); Requisitos genéricos de funcionalidad de transporte de equipos; Parte 5-1: Funciones de capa de ruta de la Jerarquía Digital Plesiócrona (PDH) (Ratificada por AENOR en diciembre de 2006.)



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