KS C IEC 60749-16-2021 Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)
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0000 KS C IEC 60749-16-2006(2016)
2006KS C IEC 60749-16:2006 Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)