NF C96-022-19*NF EN 60749-19:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: resistencia al corte del troquel.

Estándar No.

NF C96-022-19*NF EN 60749-19:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-19*NF EN 60749-19:2003

NF C96-022-19*NF EN 60749-19:2003 Historia

• 2003 NF C96-022-19*NF EN 60749-19:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: resistencia al corte del troquel.