IEC 60068-2-8:1960
Procedimientos básicos de prueba ambiental para componentes electrónicos y equipos electrónicos - Parte 2: Pruebas - Prueba H: Almacenamiento

Estándar No.
IEC 60068-2-8:1960
Fecha de publicación
1960
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 60068-2-8:1999
Ultima versión
IEC 60068-2-8:1999
Reemplazar
1960-01-01
 

Introducción

Esta norma establece un conjunto de procedimientos sistemáticos para evaluar la resistencia de componentes electrónicos y equipos bajo condiciones de almacenamiento prolongado. El enfoque principal consiste en someter los dispositivos a rangos específicos de temperatura y humedad durante períodos definidos, con el objetivo de identificar posibles degradaciones físicas o químicas que puedan ocurrir durante su vida útil cuando no están en operación. Los ensayos simulan escenarios reales de transporte, almacenamiento en almacenes o entornos de distribución, permitiendo verificar la estabilidad de los materiales y la funcionalidad de los circuitos. Los protocolos detallan las condiciones de montaje, los ciclos térmicos aplicables y los criterios de evaluación para determinar si el equipo mantiene sus especificaciones técnicas después de la prueba. Este método proporciona una base común para fabricantes y usuarios, facilitando la comparación objetiva de la calidad y fiabilidad de distintos productos en lo referente a su capacidad para sobrevivir en condiciones de reposo sin alteraciones funcionales.

IEC 60068-2-8:1960 Historia

  • 1999 IEC 60068-2-8:1999 Pruebas ambientales — Parte 2-58: Pruebas — Prueba Td
  • 1960 IEC 60068-2-8:1960 Procedimientos básicos de prueba ambiental para componentes electrónicos y equipos electrónicos - Parte 2: Pruebas - Prueba H: Almacenamiento

estándares y especificaciones




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