OS GSO IEC 60749-16:2014
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND).

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OS GSO IEC 60749-16:2014 Historia

• 1970 OS GSO IEC 60749-16:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND).