DB13/T 5696-2023
Método rápido de detección de defectos para dispositivos de potencia GaN HEMT RF basado en una prueba de polarización inversa a alta temperatura (Versión en inglés)
- Estándar No.
- DB13/T 5696-2023
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2023
- Organización
- Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China
- Ultima versión
- DB13/T 5696-2023
DB13/T 5696-2023 Historia
- 2023 DB13/T 5696-2023 Método rápido de detección de defectos para dispositivos de potencia GaN HEMT RF basado en una prueba de polarización inversa a alta temperatura
