IEEE Std 1687-2014
Estándar IEEE para acceso y control de instrumentación integrada en un dispositivo semiconductor
- Estándar No.
- IEEE Std 1687-2014
- Fecha de publicación
- 2014
- Organización
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Ultima versión
- IEEE Std 1687-2014
- Alcance
- En este estándar se describe una metodología para acceder a instrumentación integrada dentro de un dispositivo semiconductor, sin definir los instrumentos o sus características en sí, a través del puerto de acceso a pruebas (TAP) IEEE 1149.1(TM) y/u otras señales. Incluye una arquitectura de hardware para la red en chip que conecta los instrumentos a los pines del chip, una descripción del hardware...
IEEE Std 1687-2014 Historia
- 2014 IEEE Std 1687-2014 Estándar IEEE para acceso y control de instrumentación integrada en un dispositivo semiconductor
