UNE 66020-2:2001 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 2: Planes de muestreo indexados por calidad limitante (LQ) para inspección de lotes aislados.
Este documento describe los procedimientos de muestreo basados en atributos, específicamente enfocado en la aplicación de planes de muestreo que utilizan índices de calidad limitada (LQ) para la inspección de lotes independientes. Proporciona métodos para determinar el tamaño de la muestra y los criterios de aceptación o rechazo, con el objetivo de garantizar que los lotes cumplen con los requisitos establecidos. El texto incluye tablas y ejemplos que facilitan la aplicación práctica de estos planes de muestreo. Este documento se estructura de manera clara y sistemática, permitiendo su uso en diversos contextos industriales y comerciales donde sea necesario aplicar inspecciones por muestreo basadas en atributos.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
UNE 66020-2:2001 Historia
2001UNE 66020-2:2001 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 2: Planes de muestreo indexados por calidad limitante (LQ) para inspección de lotes aislados.