T/SLEIA 0003-2024
Método de evaluación de confiabilidad del optoacoplador. (Versión en inglés)

Estándar No.
T/SLEIA 0003-2024
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2024
Organización
Group Standards of the People's Republic of China
Ultima versión
T/SLEIA 0003-2024
 
Alcance
Este documento especifica los parámetros de ruido de baja frecuencia, los métodos de evaluación y las aplicaciones de los métodos utilizados para la evaluación de la confiabilidad de los dispositivos de acoplamiento optoelectrónicos (en lo sucesivo, dispositivos).

T/SLEIA 0003-2024 Historia

Temas especiales sobre estándares y normas

Método de evaluación de confiabilidad estándar del grupo

estándares y especificaciones

BS EN 60747-5-5:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores IEC 60747-5-5:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores IEC 60747-5-5:2007 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos - Fotoacopladores GSO IEC 60747-5-5:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos - Fotoacopladores EN 60747-5-5:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos - Fotoacopladores (Incorpora la Enmienda A1: 2015 GOST 24613.1-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la capacitancia de entrada a salida GOST 24613.2-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir la corriente de fuga GOST 24613.3-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir el voltaje de entrada GOST 24613.6-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la tensión de aislamiento GOST 24613.9-1983 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir los tiempos de conmutación


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