DB13/T 5120-2019
Especificaciones para la prueba de rendimiento de CC de chips láser semiconductores FP y DFB para comunicación óptica (Versión en inglés)

Estándar No.

DB13/T 5120-2019

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2019

Organización

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

DB13/T 5120-2019

DB13/T 5120-2019 Historia

• 2019 DB13/T 5120-2019 Especificaciones para la prueba de rendimiento de CC de chips láser semiconductores FP y DFB para comunicación óptica