GSO IEC 62047-27:2021
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 27: Ensayo de resistencia de unión para estructuras unidas por frita de vidrio mediante ensayos de microchevron (MCT)

Estándar No.

GSO IEC 62047-27:2021

Fecha de publicación

2021

Organización

GSO

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GSO IEC 62047-27:2021

GSO IEC 62047-27:2021 Historia

• 2021 GSO IEC 62047-27:2021 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 27: Ensayo de resistencia de unión para estructuras unidas por frita de vidrio mediante ensayos de microchevron (MCT)