IEEE Std 301-1969*ANSI N42.2-1969
Procedimientos de prueba IEEE para amplificadores y preamplificadores para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)

Estándar No.

IEEE Std 301-1969*ANSI N42.2-1969

Fecha de publicación

1968

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

 1976-01

Remplazado por

IEEE Std 301-1976

Ultima versión

IEEE Std 301-1988

Alcance

Los detectores de radiación semiconductores se han utilizado ampliamente en los últimos años para la detección de radiación ionizante. Se han desarrollado detectores tanto de silicio como de germanio, encontrando el silicio su principal aplicación en la detección y análisis de partículas pesadas cargadas. Detectores de germanio con un número atómico relativamente alto (en comparación con el silicio) y con grandes volúmenes sensibles...

IEEE Std 301-1969*ANSI N42.2-1969 Historia

• 1989 IEEE Std 301-1988 Procedimientos de prueba estándar IEEE para amplificadores y preamplificadores utilizados con detectores de radiación ionizante
• 1976 IEEE Std 301-1976 Procedimientos de prueba estándar IEEE para amplificadores y preamplificadores para detectores de radiación semiconductora para radiación ionizante
• 1968 IEEE Std 301-1969*ANSI N42.2-1969 Procedimientos de prueba IEEE para amplificadores y preamplificadores para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)