GJB 128B-2021
Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos (Versión en inglés)

Estándar No.

GJB 128B-2021

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2021

Organización

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

Ultima versión

GJB 128B-2021

GJB 128B-2021 Historia

• 2021 GJB 128B-2021 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos
• 1997 GJB 128A-1997 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos
• 1986 GJB 128-1986 Especificación de fotografía aérea para cartografía topográfica militar.