IEC 60147-2E:1973
Suplemento E - Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición - Parte 2: Principios generales de los métodos de medición

Estándar No.

IEC 60147-2E:1973

Fecha de publicación

1970

Organización

SCC

Ultima versión

IEC 60147-2E:1973

Remplazado por

IEC 60147-2E:1973

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31.080.10

IEC 60147-2E:1973 Historia

• 1963 IEC 60147-2:1963 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 2: Principios generales de los métodos de medición.