NF C96-022-31*NF EN 60749-31:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 31: inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente).

Estándar No.

NF C96-022-31*NF EN 60749-31:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-31*NF EN 60749-31:2003

NF C96-022-31*NF EN 60749-31:2003 Historia

• 2003 NF C96-022-31*NF EN 60749-31:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 31: inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente).