CEI EN 62374:2009
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta

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CEI EN 62374:2009

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2009

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SCC

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• 2009 CEI EN 62374:2009 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta