IEC 60444-3:1986
Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red PI Parte 3: Método básico para la medición de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz mediante la técnica de fase en una red PI con compensación del par

Estándar No.

IEC 60444-3:1986

Fecha de publicación

1986

Organización

IEC - International Electrotechnical Commission

Ultima versión

IEC 60444-3:1986

IEC 60444-3:1986 Historia

• 1986 IEC 60444-3:1986 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red PI Parte 3: Método básico para la medición de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz mediante la técnica de fase en una red PI con compensación del par