SAE J1752-2-1995
Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimiento de diagnóstico de emisiones radiadas de circuitos integrados 1 MHz a 1000 MHz @ Campo magnético - Sonda de bucle @ Práctica recomendada (marzo de 1995)

Estándar No.

SAE J1752-2-1995

Fecha de publicación

1995

Organización

SAE - SAE International

Estado

Remplazado por

SAE J1752-2-2003

Ultima versión

SAE J1752-2-2016

SAE J1752-2-1995 Historia

• 2016 SAE J1752-2-2016 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
• 2011 SAE J1752-2-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz
• 2003 SAE J1752-2-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz
• 1995 SAE J1752-2-1995 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimiento de diagnóstico de emisiones radiadas de circuitos integrados 1 MHz a 1000 MHz @ Campo magnético - Sonda de bucle @ Práctica recomendada (marzo de 1995)