IEEE C37.26-2014
Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)

Estándar No.

IEEE C37.26-2014

Fecha de publicación

2014

Organización

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Ultima versión

IEEE C37.26-2014

Alcance

Esta guía describe tres métodos utilizados en la medición del factor de potencia de circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V e inferiores). Estos métodos pueden usarse con cualquier frecuencia; sin embargo@ los valores en las tablas son específicamente para circuitos de prueba de 60 Hz. Estos métodos son los siguientes: a) Método de relación b) Método de disminución de CC c) Método de relación de fase La Tabla 1 enumera los métodos preferidos que se utilizarán para diferentes niveles de corrientes de prueba y para diferentes niveles de factor de potencia. Si bien esta guía está destinada principalmente a ser utilizada en circuitos de prueba de bajo voltaje, los métodos analizados también se pueden utilizar a voltajes más altos. Propósito El propósito de esta guía es recomendar métodos para medir el factor de potencia para circuitos de prueba inductivos, de modo que se recomiende el método preferido que brinde la mayor precisión para cualquier circuito en particular.

IEEE C37.26-2014 Historia

• 2014 IEEE C37.26-2014 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
• 2003 IEEE C37.26-2003 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje
• 1971 IEEE C37.26-1971 Guía estándar para métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje