GSO IEC 60749-18:2014
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total).

Estándar No.

GSO IEC 60749-18:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

GSO

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GSO IEC 60749-18:2014

GSO IEC 60749-18:2014 Historia

• 2014 GSO IEC 60749-18:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total).