DIN EN 62047-6:2010-07
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 6: Métodos de ensayo de fatiga axial de materiales de película delgada (IEC 62047-6:2009); Versión alemana EN 62047-6:2010
- Estándar No.
- DIN EN 62047-6:2010-07
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 62047-6:2010-07
DIN EN 62047-6:2010-07 Historia
- 2010 DIN EN 62047-6:2010-07 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 6: Métodos de ensayo de fatiga axial de materiales de película delgada (IEC 62047-6:2009); Versión alemana EN 62047-6:2010
- 2010 DIN EN 62047-6:2010 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 6: Métodos de ensayo de fatiga axial de materiales de película delgada (IEC 62047-6:2009); Versión alemana EN 62047-6:2010
