IEC 60747-8-3:1995
Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 8: Transistores de efecto de campo - Sección 3: Especificación detallada en blanco para transistores de efecto de campo con clasificación de caja para aplicaciones de conmutación

Estándar No.

IEC 60747-8-3:1995

Fecha de publicación

1995

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60747-8-3:1995

Reemplazar

IEC/DIS 47(CO)1350:1993

Alcance

El objetivo del sistema de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos es definir los procedimientos de evaluación de la calidad de tal manera que los componentes electrónicos liberados por un país participante cumplan con los requisitos de una especificación aplicable.

IEC 60747-8-3:1995 Historia

• 1995 IEC 60747-8-3:1995 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 8: Transistores de efecto de campo - Sección 3: Especificación detallada en blanco para transistores de efecto de campo con clasificación de caja para aplicaciones de conmutación