BS IEC 63068-4:2022
Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento no destructivo de defectos en oblea homoepitaxial de carburo de silicio para dispositivos de potencia - Procedimiento para identificar y evaluar defectos mediante un método combinado de inspección óptica y…

Estándar No.

BS IEC 63068-4:2022

Fecha de publicación

2022

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS IEC 63068-4:2022

BS IEC 63068-4:2022 Historia

• 2022 BS IEC 63068-4:2022 Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento no destructivo de defectos en oblea homoepitaxial de carburo de silicio para dispositivos de potencia - Procedimiento para identificar y evaluar defectos mediante un método combinado de inspección óptica y…