IEEE 1241-2010
Terminología y métodos de prueba para convertidores analógicos a digitales

Estándar No.
IEEE 1241-2010
Fecha de publicación
2010
Organización
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.
Estado
Remplazado por
IEEE 1241-2023
Ultima versión
IEEE 1241-2023
Alcance
El material presentado en esta norma tiene como objetivo proporcionar terminología y métodos de prueba comunes para la prueba y evaluación de convertidores analógicos a digitales (ADC). Este estándar considera solo aquellos ADC cuyos valores de salida tienen valores discretos en momentos discretos, es decir, están cuantificados y muestreados. En general@, se supone que esta cuantificación es nominalmente uniforme (la curva de transferencia entrada-salida es aproximadamente una línea recta) como se analiza más adelante en 1.3@ y se supone que el muestreo se realiza a una tasa nominalmente uniforme. Algunos, pero no todos, los métodos de prueba de esta norma se pueden utilizar para ADC que están diseñados para una cuantificación no uniforme. Propósito Esta norma identifica las fuentes de error del ADC y proporciona métodos de prueba con los cuales realizar las mediciones de error requeridas. La información contenida en este estándar es útil tanto para los fabricantes como para los usuarios de ADC ya que proporciona una base para evaluar y comparar dispositivos existentes, así como una plantilla para escribir especificaciones para la adquisición de otros nuevos. En algunas aplicaciones, la información proporcionada por las pruebas descritas en esta norma se puede utilizar para corregir errores del ADC, por ejemplo, corrección de errores de ganancia y compensación. El lector debe tener en cuenta que este estándar tiene muchas similitudes con IEEE Std 1057. Muchas de las pruebas y términos son casi los mismos, ya que los ADC son una parte necesaria para digitalizar los registradores de formas de onda.

IEEE 1241-2010 Historia

  • 2023 IEEE 1241-2023 Estándar IEEE para terminología y métodos de prueba para convertidores analógicos a digitales
  • 2010 IEEE 1241-2010 Terminología y métodos de prueba para convertidores analógicos a digitales
  • 2001 IEEE 1241-2001 Terminología y métodos de prueba para convertidores analógicos a digitales.
  • 2000 IEEE 1241-2000 Norma de terminología y métodos de prueba para convertidores analógicos a digitales



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