YD/T 3037.1.1-2016
Método de prueba para las características de la interfaz USB entre la tarjeta de circuito integrado universal (UICC) y el terminal Parte 1: Terminal (Versión en inglés)

Estándar No.

YD/T 3037.1.1-2016

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2016

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

YD/T 3037.1.1-2016

YD/T 3037.1.1-2016 Historia

• 2016 YD/T 3037.1.1-2016 Método de prueba para las características de la interfaz USB entre la tarjeta de circuito integrado universal (UICC) y el terminal Parte 1: Terminal