NF C96-050-25*NF EN 62047-25:2016
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método de medición de la resistencia a la tracción y al corte del área de microunión

Estándar No.

NF C96-050-25*NF EN 62047-25:2016

Fecha de publicación

2016

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

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NF C96-050-25*NF EN 62047-25:2016 Historia

• 2016 NF C96-050-25*NF EN 62047-25:2016 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método de medición de la resistencia a la tracción y al corte del área de microunión