NF C96-022-30/A1*NF EN 60749-30/A1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad.

Estándar No.

NF C96-022-30/A1*NF EN 60749-30/A1:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-30/A1*NF EN 60749-30/A1:2011

NF C96-022-30/A1*NF EN 60749-30/A1:2011 Historia

• 2011 NF C96-022-30/A1*NF EN 60749-30/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad.