DIN EN 60749-19:2011-01
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Versión alemana EN 60749-19:2003 + A1:2010 / Nota: DIN EN 60749-19 (2003-10) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2013-09-01.
- Estándar No.
- DIN EN 60749-19:2011-01
- Fecha de publicación
- 2011
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 60749-19:2011-01
DIN EN 60749-19:2011-01 Historia
- 2011 DIN EN 60749-19:2011-01 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Versión alemana EN 60749-19:2003 + A1:2010 / Nota: DIN EN 60749-19 (2003-10) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2013-09-01.
