NF C96-022-33*NF EN 60749-33:2005
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: resistencia acelerada a la humedad. Autoclave imparcial.

Estándar No.

NF C96-022-33*NF EN 60749-33:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

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NF C96-022-33*NF EN 60749-33:2005 Historia

• 2005 NF C96-022-33*NF EN 60749-33:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: resistencia acelerada a la humedad. Autoclave imparcial.