IEC 60747-10:1991
Dispositivos semiconductores; parte 10: especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados

Estándar No.

IEC 60747-10:1991

Fecha de publicación

1991

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

ser reemplazado

Remplazado por

IEC 60747-10:1991/AMD1:1995

Ultima versión

IEC 60747-10:1991/AMD3:1996

Reemplazar

IEC 60747-10:1984

Alcance

Define procedimientos generales para la evaluación de la calidad que se utilizarán en el Sistema IECQ y brinda reglas generales para: 　——métodos de medición de características eléctricas; 　——pruebas climáticas y mecánicas; 　——pruebas de resistencia.

IEC 60747-10:1991 Historia

• 1996 IEC 60747-10:1991/AMD3:1996 Enmienda 3 - Dispositivos semiconductores - Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
• 1996 IEC 60747-10:1991/AMD2:1996 Enmienda No. 2 a IEC 747-10.
• 1995 IEC 60747-10:1991/AMD1:1995 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
• 1991 IEC 60747-10:1991 Dispositivos semiconductores; parte 10: especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
• 1984 IEC 60747-10:1984 Dispositivos semiconductores - Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados

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