IEC 60747-10:1991
Dispositivos semiconductores; parte 10: especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
- Estándar No.
- IEC 60747-10:1991
- Fecha de publicación
- 1991
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- Remplazado por
- IEC 60747-10/AMD1:1995
- Ultima versión
- IEC 60747-10:1991/AMD3:1996
- Reemplazar
- IEC 60747-10:1984
- Alcance
- Define procedimientos generales para la evaluación de la calidad que se utilizarán en el Sistema IECQ y brinda reglas generales para: ——métodos de medición de características eléctricas; ——pruebas climáticas y mecánicas; ——pruebas de resistencia.
IEC 60747-10:1991 Historia
- 1996 IEC 60747-10:1991/AMD3:1996 Enmienda 3 - Dispositivos semiconductores - Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
- 1995 IEC 60747-10/AMD1:1995 Dispositivos semiconductores - Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados; Enmienda 1
- 1991 IEC 60747-10:1991 Dispositivos semiconductores; parte 10: especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
