EN 62418:2010
Dispositivos semiconductores: prueba de vacío de tensión de metalización

Estándar No.

EN 62418:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN 62418:2010

Alcance

IEC 62418:2010 describe un método de prueba de vacíos de tensión de metalización y criterios asociados. Es aplicable a la metalización de aluminio (Al) o cobre (Cu).

EN 62418:2010 Historia

• 2010 EN 62418:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de vacío de tensión de metalización