IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019
Enmienda 1 - Aparamenta de conmutación y control de baja tensión - Parte 5-4: Dispositivos de circuito de control y elementos de conmutación - Método de evaluación del rendimiento de los contactos de baja energía - Pruebas especiales

Estándar No.

IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019

Fecha de publicación

2019

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019

IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019 Historia

• 2019 IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019 Enmienda 1 - Aparamenta de conmutación y control de baja tensión - Parte 5-4: Dispositivos de circuito de control y elementos de conmutación - Método de evaluación del rendimiento de los contactos de baja energía - Pruebas especiales
• 2002 IEC 60947-5-4:2002 Aparamenta de conmutación y control de baja tensión. Parte 5-4: Dispositivos de circuitos de control y elementos de conmutación; Método de evaluación del desempeño de contactos de baja energía; Pruebas especiales
• 1996 IEC 60947-5-4:1996 Aparamenta de conmutación y control de baja tensión - Parte 5: Dispositivos de circuito de control y elementos de conmutación - Sección 4: Métodos para evaluar el rendimiento de contactos de baja energía - Pruebas especiales (Edición 1.0; Corrigendum 1:2000)