IEC 61000-4-20:2003+AMD1:2006 CSV
Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)

Estándar No.

IEC 61000-4-20:2003+AMD1:2006 CSV

Fecha de publicación

1970

Organización

SCC

Estado

ser reemplazado

Remplazado por

IEC 61000-4-20:2007

Ultima versión

IEC 61000-4-20:2022

Reemplazar

en

IEC 61000-4-20:2003+AMD1:2006 CSV Historia

• 2022 IEC 61000-4-20:2022 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
• 2010 IEC 61000-4-20:2010 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
• 2007 IEC 61000-4-20:2007
• 1970 IEC 61000-4-20:2003/AMD1:2006 Enmienda 1 - Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
• 2003 IEC 61000-4-20:2003 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición; Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)