IEC 61000-4-20:2003
Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición; Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)

Estándar No.

IEC 61000-4-20:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 61000-4-20/AMD1:2006

Ultima versión

IEC 61000-4-20:2022

Alcance

Se relaciona con métodos de prueba de emisión e inmunidad para equipos eléctricos y electrónicos que utilizan varios tipos de guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM). Esto incluye abiertos (por ejemplo, líneas de corte y simuladores EMP) y cerrados (por ejemplo, celdas TEM)

IEC 61000-4-20:2003 Historia

• 2022 IEC 61000-4-20:2022 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
• 2010 IEC 61000-4-20:2010 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
• 2007 IEC 61000-4-20:2007
• 2006 IEC 61000-4-20/AMD1:2006 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM); Enmienda 1
• 2003 IEC 61000-4-20:2003 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición; Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)