XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011
Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen

Estándar No.: XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011
Fecha de publicación: 2011
Organización: Association Francaise de Normalisation
Ultima versión: XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011

Introducción: Esta norma proporciona métodos para evaluar la nitidez de imágenes obtenidas mediante microanálisis con microscopios electrónicos de barrido. Describe procedimientos detallados que permiten a los usuarios determinar la calidad de las imágenes y mejorar la resolución en estudios científicos e industriales.

*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.

XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Historia

2011 XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen

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