BS EN 60749-9:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Permanencia del marcado
- Estándar No.
- BS EN 60749-9:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 60749-9:2017
- Alcance
- ¿De qué trata BS EN IEC 60749-9 - Permanencia del marcado de dispositivos semiconductores? BS EN IEC 60749 es una norma internacional que cubre la permanencia del marcado de dispositivos semiconductores, facilitando el marcado y etiquetado de dispositivos semiconductores de estado sólido para la clasificación y autenticidad de El propósito de BS EN 60749-9 es determinar si las marcas en dispositivos semiconductores de estado sólido permanecerán legibles cuando se sometan a la aplicación y eliminación de etiquetas o al uso de disolventes y soluciones de limpieza comúnmente utilizados durante la eliminación de soldadura. Residuos de fundente del proceso de fabricación de placas de circuito impreso.Se aplica la prueba BS EN 60749-9...
BS EN 60749-9:2017 Historia
- 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
- 2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
- 1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
- 0000 BS 6493-3:1986
