EN 62415:2010
Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante

Estándar No.

EN 62415:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization

Ultima versión

EN 62415:2010

Alcance

Esta norma describe un método para pruebas convencionales de electromigración de corriente constante de líneas metálicas a través de cuerdas y contactos.

EN 62415:2010 Historia

• 2010 EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante