ANSI/IEEE Std 300-1982
Procedimientos de prueba estándar IEEE para detectores de partículas cargadas de semiconductores

Estándar No.

ANSI/IEEE Std 300-1982

Fecha de publicación

1992

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

ANSI/IEEE Std 300-1982

Alcance

El objeto de esta norma es establecer procedimientos de prueba estándar para detectores de partículas cargadas de semiconductores. Estos detectores se utilizan ampliamente para la detección y espectroscopía de alta resolución de partículas cargadas. Es deseable mantener procedimientos de prueba estándar para que las mediciones puedan tener el mismo significado para todos los fabricantes y usuarios. No todas las pruebas descritas en esta norma...

ANSI/IEEE Std 300-1982 Historia

• 1992 ANSI/IEEE Std 300-1982 Procedimientos de prueba estándar IEEE para detectores de partículas cargadas de semiconductores