NF ISO 23830:2009
Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios

Estándar No.
NF ISO 23830:2009
Fecha de publicación
2009
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF ISO 23830:2009
 

Introducción
Este estándar establece criterios para evaluar la repetibilidad y estabilidad de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estáticos, aplicada a la análisis químico superficial. Define métodos para medir la consistencia de los resultados obtenidos en condiciones similares, garantizando una comparación válida entre diferentes análisis. También establece requisitos para la calibración y validación de los equipos utilizados en este tipo de análisis. Además, proporciona directrices para la interpretación de los datos obtenidos, facilitando la reproducción de los resultados en distintos laboratorios. El documento incluye procedimientos específicos para la evaluación de la variabilidad en la medición de intensidades relativas, lo que permite una mayor precisión en la caracterización de superficies mediante este método.

NF ISO 23830:2009 Historia

  • 2009 NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios

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