TS 102 841-2010
Telecomunicaciones inalámbricas digitales mejoradas (DECT); DECT de nueva generación; Servicios de voz de banda ancha ampliada; Especificación de prueba de perfil (PTS) y biblioteca de casos de prueba (TCL) (V1.1.1)

Estándar No.
TS 102 841-2010
Fecha de publicación
2010
Organización
ETSI - European Telecommunications Standards Institute
Estado
 2011-02
Remplazado por
TS 102 841-2011
Ultima versión
TS 102 841-2014
Alcance
"El presente documento contiene la Especificación de prueba de perfil (PTS) y la Biblioteca de casos de prueba (TCL) para "DECT de nueva generación; Parte 3: Voz de banda ancha extendida" (TS 102 527-3 [14]). El presente documento cubre Tanto las terminaciones de radio portátiles (PT) como las fijas (FT). La Biblioteca de casos de prueba (TCL) cubre también algunos casos de prueba para ""DECT Nueva generación; parte 1; Voz de banda ancha"" (TS 102 527-1 [13] ) y para el ""Perfil de acceso genérico"" (EN 300 444 [12]). Esto se hace porque dichos casos de prueba son obligatorios o especialmente relevantes para DECT de nueva generación parte 3 (consulte TS 102 527-3 [14])@ y no están cubiertos por las especificaciones de prueba GAP existentes. Debido a la compatibilidad ascendente de los perfiles DECT @ todos los dispositivos DECT parte 3 de nueva generación (consulte TS 102 527-3 [14]) también deben cumplir con ""DECT de nueva generación; parte 1; Voz de banda ancha"" (TS 102 527-1 [13]) y con el ""Perfil de acceso genérico"" (GAP@ EN 300 444 [12]). Sin embargo@ con la excepción de algunos casos de prueba específicos@ como mencionado anteriormente @ el presente documento no cubre el cumplimiento de las BPA que se supone se aplican mediante especificaciones de prueba separadas (ver nota). NOTA: La práctica estándar de facto de la industria para asegurar el cumplimiento de GAP [12] es el uso de TBR 022 [i.4] modificado por TBR 022/A1 [i.5] @ incluso cuando estos dos documentos no tienen ningún ya no pierden su significado regulatorio inicial. TBR 022 [i.4] se basa en la especificación de prueba de perfil GAP (EN 300 494 partes 1 [i.6] a 3 [i.8]) y en la biblioteca de casos de prueba DECT (EN 300 497 partes 1 [i.9] ] a 9 [i.17]). El objetivo del presente documento es proporcionar una base para las pruebas de aprobación de equipos NG-DECT Parte 3 que brinden una alta probabilidad de interoperabilidad de interfaz aérea entre equipos DECT de diferentes fabricantes".

TS 102 841-2010 Historia

  • 2014 TS 102 841-2014 Telecomunicaciones inalámbricas digitales mejoradas (DECT); DECT de nueva generación; Servicios de voz de banda ancha ampliada; Especificación de prueba de perfil (PTS) y biblioteca de casos de prueba (TCL) (V1.5.1)
  • 2013 TS 102 841-2013 Telecomunicaciones inalámbricas digitales mejoradas (DECT); DECT de nueva generación; Servicios de voz de banda ancha ampliada; Especificación de prueba de perfil (PTS) y biblioteca de casos de prueba (TCL) (V1.4.1)
  • 2012 TS 102 841-2012 Telecomunicaciones inalámbricas digitales mejoradas (DECT); DECT de nueva generación; Servicios de voz de banda ancha ampliada; Especificación de prueba de perfil (PTS) y biblioteca de casos de prueba (TCL) (V1.3.1)
  • 2011 TS 102 841-2011 Telecomunicaciones inalámbricas digitales mejoradas (DECT); DECT de nueva generación; Servicios de voz de banda ancha ampliada; Especificación de prueba de perfil (PTS) y biblioteca de casos de prueba (TCL) (V1.2.1)
  • 2010 TS 102 841-2010 Telecomunicaciones inalámbricas digitales mejoradas (DECT); DECT de nueva generación; Servicios de voz de banda ancha ampliada; Especificación de prueba de perfil (PTS) y biblioteca de casos de prueba (TCL) (V1.1.1)



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