IEEE C62.38-1994
Guía sobre descargas electrostáticas (ESD): métodos de evaluación de la capacidad de resistencia a ESD (para subconjuntos de equipos electrónicos)

Estándar No.
IEEE C62.38-1994
Fecha de publicación
1994
Organización
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Ultima versión
IEEE C62.38-1994
 

Alcance
Los métodos de prueba descritos están destinados a ser utilizados para descubrir fallas de subconjuntos que resultan de ESD@ destructivas, así como aquellas fallas que pueden resultar de la modificación de datos almacenados en subconjuntos [por ejemplo, en elementos de memoria no volátiles tales como lectores programables borrables electrónicamente. sólo memoria (EEPROM) o memoria de acceso aleatorio (RAM) compatible con batería]. Esta guía no especifica pruebas de ESD para caracterizar la capacidad de resistencia de subconjuntos que están incompletos (por ejemplo, en el proceso de fabricación) ni la inmunidad ESD esperada de subconjuntos instalados y/o alimentados externamente. Además, esta guía no especifica pruebas para equipos o sistemas completos, ya sean alimentados o no, ni tampoco especifica pruebas de ESD para componentes electrónicos individuales, como circuitos integrados. Estas pruebas de ESD están cubiertas en otras normas (consulte IEC Pub 801-2 (1991) @ [B1] @ 1 [B2] @ y [B4]).

IEEE C62.38-1994 Historia

  • 1994 IEEE C62.38-1994 Guía sobre descargas electrostáticas (ESD): métodos de evaluación de la capacidad de resistencia a ESD (para subconjuntos de equipos electrónicos)

estándares y especificaciones




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