NF EN 62047-25:2016
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método para medir la resistencia a la tracción-compresión y al corte de una zona de microsoldadura

Estándar No.

NF EN 62047-25:2016

Fecha de publicación

2016

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 62047-25:2016

NF EN 62047-25:2016 Historia

• 2016 NF EN 62047-25:2016 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método para medir la resistencia a la tracción-compresión y al corte de una zona de microsoldadura