EN 62047-7:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 7: Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia normas y especificaciones

Estándar No.: EN 62047-7:2011
Fecha de publicación: 2011
Organización: European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Ultima versión: EN 62047-7:2011

Alcance: IEC 62047-7:2011 describe términos, definiciones, símbolos, configuraciones y métodos de prueba que se pueden utilizar para evaluar y determinar las características de rendimiento de los dispositivos resonadores, filtros y duplexores BAW como dispositivos de selección y control de radiofrecuencia. Esta norma especifica los métodos de prueba y los requisitos generales para dispositivos resonadores, filtros y duplexores BAW de calidad evaluada mediante procedimientos de aprobación de capacidad o calificación.

EN 62047-7:2011 Historia

2011 EN 62047-7:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 7: Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia