Esta norma establece métodos, controles y procedimientos uniformes para probar dispositivos microelectrónicos adecuados para su uso dentro de sistemas electrónicos militares y aeroespaciales, incluidas pruebas ambientales básicas para determinar la resistencia a los efectos nocivos de los elementos naturales y las condiciones que rodean las operaciones militares y espaciales; pruebas mecánicas y eléctricas; procedimientos de mano de obra y capacitación; y otros controles y restricciones que se hayan considerado necesarios para garantizar un nivel uniforme de calidad y confiabilidad adecuado a las aplicaciones previstas de esos dispositivos. A los efectos de esta norma, el término "dispositivos" incluye elementos tales como microcircuitos monolíticos, multichip, de película e híbridos, conjuntos de microcircuitos y los elementos a partir de los cuales se forman los circuitos y conjuntos. Esta norma está destinada a aplicarse únicamente a dispositivos microelectrónicos.