IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.
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IEEE 1581-2011
Alcance
Este estándar define un método de bajo costo para probar la interconexión de circuitos integrados de memoria (IC) complejos y discretos donde no hay pines adicionales para las pruebas disponibles y la implementación de escaneo de límites (IEEE Std 1149.1?)1 no es factible. Este estándar describe las reglas de implementación para la lógica de prueba y los métodos de acceso/salida del modo de prueba en circuitos integrados compatibles. El estándar se limita a la descripción del comportamiento de la implementación y no incluirá el diseño técnico de la lógica de prueba ni del circuito de control del modo de prueba. Objetivo Actualmente no existe ningún estándar independiente definido para la tecnología de prueba en dispositivos de memoria. Cada proveedor tiene libertad para implementar la funcionalidad de hardware de prueba en sus circuitos integrados para respaldar las pruebas de conectividad. Sin un estándar independiente@ la capacidad de prueba se reduce@ y la cobertura de la prueba puede no ser completa. haciendo que la tecnología de prueba sea menos útil para otros. Este estándar mejorará las pruebas de interconexión para dispositivos de memoria discreta al especificar reglas de implementación para la lógica de prueba y los métodos de entrada/salida del modo de prueba incluidos en los circuitos integrados de memoria como guía tanto para los proveedores de circuitos integrados que implementan el estándar como para los fabricantes de equipos de prueba que respaldan este estándar. El estándar está dirigido a circuitos integrados que, de otro modo, no cuentan con diseño para capacidad de prueba (DFT) por ningún motivo @ dirigido principalmente a dispositivos de memoria pero que también permite la implementación en otros dispositivos @ al tiempo que admite la más alta cobertura de fallas y diagnósticos a nivel de pin a nivel de placa. fallos de conectividad en dichos dispositivos. 1 La información sobre las referencias normativas se puede encontrar en la Cláusula 2.
IEEE 1581-2011 Historia
2011IEEE 1581-2011 Arquitectura y protocolo de prueba de interconexión de componentes estáticos (IEEE Computer Society)