EN 62496-2:2017 Placas de circuitos ópticos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 2: Orientación general para la definición de las condiciones de medición de las características ópticas de las placas de circuitos ópticos.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
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EN 62496-2:2017
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IEC 62496-2:2017(E) especifica un método para definir las condiciones para las mediciones de características ópticas de placas de circuitos ópticos. El método comprende el uso de tablas de consulta de referencias de códigos para identificar diferentes aspectos críticos del entorno de medición. Los valores extraídos de las tablas se utilizan para construir un código de identificación de medición que, en sí mismo, captura información suficiente sobre las condiciones de medición, para garantizar la coherencia de los resultados medidos de forma independiente dentro de un margen aceptable. Las condiciones de medición recomendadas se especifican para minimizar mayores variaciones en los resultados medidos de forma independiente. Palabras clave: densidad de ancho de banda, características ópticas de placas de circuitos ópticos.
EN 62496-2:2017 Historia
2017EN 62496-2:2017 Placas de circuitos ópticos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 2: Orientación general para la definición de las condiciones de medición de las características ópticas de las placas de circuitos ópticos.