DIN 50441-3:1985
Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; medición de las dimensiones geométricas de láminas de semiconductores; Determinación de la desviación de la planitud de rodajas pulidas mediante interferencia de haces múltiples.

Estándar No.

DIN 50441-3:1985

Fecha de publicación

1985

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50441-3:1985

DIN 50441-3:1985 Historia

• 1985 DIN 50441-3:1985 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; medición de las dimensiones geométricas de láminas de semiconductores; Determinación de la desviación de la planitud de rodajas pulidas mediante interferencia de haces múltiples.